Репортаж от Wedoany，Китайская компания i-TEK выпустила цветную 2.5D-систему визуализации, которая объединяет полноцветную визуализацию с 2.5D-вычислительной визуализацией, позволяя одновременно восстанавливать информацию о цвете и топографии поверхности объекта.
Традиционная 2.5D-визуализация в основном использует черно-белые решения, которые позволяют получать только топографию поверхности, но не могут восстановить информацию о цвете. Отрасль долгое время сталкивалась с проблемой невозможности одновременного учета топографии и цвета.
На этапе контроля точного производства на поверхности изделий часто одновременно присутствуют структурные дефекты (например, мелкие неровности, царапины) и цветовые дефекты (например, разница в оттенках, окислительное изменение цвета). Традиционное 2D-зрение с трудом распознает слабые высотные характеристики, а широко используемая в отрасли 2.5D-технология визуализации, основанная на черно-белых камерах, теряет реальный цвет при выделении микротопографии. Для одновременного обнаружения обоих типов дефектов предприятиям обычно требуется создавать два независимых рабочих места, что увеличивает затраты на оборудование и занимаемое пространство на линии, а проблемы с сопоставлением изображений могут снизить такт контроля.
Для решения вышеуказанных проблем компания i-TEK, опираясь на свои полные возможности в области «оптика-механика-электроника-вычисления-программное обеспечение», выпустила цветную 2.5D-систему визуализации. По аппаратной архитектуре система полностью совместима с цветными линейными и матричными камерами RGB, поддерживает работу с различными 2.5D-источниками белого света, включая купольные источники, линейные источники, кольцевые источники и т.д. Для решения проблемы ложных цветов на краях, возникающей при покадровой экспозиции цветных линейных камер с многоугольными источниками света из-за высокоскоростного движения объекта и различий в отклике по спектральным диапазонам, компания i-TEK разработала алгоритм удаления ложных цветов. Он устраняет дисперсию в цветном усредненном изображении за счет оптимизации коэффициентов коррекции дисперсии, сохраняя точность цветопередачи и чистоту изображения при высокоскоростном сканировании.
Данная система визуализации поддерживает два технических подхода: цветную фотометрическую стереоскопию и цветную фазовую дефлектометрию. Цветная фотометрическая стереосистема подходит для диффузно отражающих или слабо отражающих поверхностей, а цветная фазовая дефлектометрическая система — для высокоотражающих металлических материалов, обеспечивая полное покрытие сценариев для различных материалов и сложных технологических процессов.
В примерах применения, при внешнем осмотре печатных плат (PCB), традиционные 2D-решения AOI с трудом выявляют дефекты с минимальной разницей по высоте, а монохромные 2.5D-решения не могут определить разницу в оттенках чернил. При использовании цветной линейной фотометрической стереосистемы i-TEK за одно сканирование можно одновременно получить 2.5D-алгоритмическое изображение признаков и цветное усредненное изображение RGB. Первое извлекает топографические дефекты, такие как царапины и выбоины, а второе определяет разницу в оттенках чернил и дефекты трафаретной печати, обеспечивая интеграцию объемного контроля дефектов и цветовой верификации. При контроле металлических рамок ноутбуков, для решения проблем, связанных с сильным отражением металла и помехами от следов обработки, цветная линейная фазовая дефлектометрическая система i-TEK использует собственный 2.5D-алгоритм удаления следов обработки для фильтрации помех, в сочетании с алгоритмом усиления дефектов для их выделения, в то время как цветная визуализация фиксирует окислительное изменение цвета поверхности и темные пятна.
