Атомно-абсорбционный спектрофотометр модели AA-7050D

AA-7050D оснащён двухлучевой оптической системой с полным отражением, которая автоматически выполняет установку нуля, сканирование, регулировку положения лампы, регулировку положения зеркал и балансировку энергии в зависимости от выбранных в методике условий, таких как длина волны элемента. Прибор широко применяется в металлургии, нефтехимии, геологии, медицине, охране окружающей среды, научных исследованиях, сельском хозяйстве (почвы и удобрения), санитарно-эпидемиологическом контроле, пищевой промышленности, материаловедении, товарной экспертизе и других областях. В настоящее время прибор позволяет анализировать более 70 элементов и имеет чрезвычайно важное применение в анализе микро- и следовых количеств элементов.

1. Двухлучевая оптическая система с полным отражением, в реальном времени устраняет дрейф лампы элемента, функция автоматической компенсации базовой линии, обеспечивающая чувствительность измерений; наличие функции пламенной эмиссии

2. Спектральная ширина щели: 0,1; 0,2; 0,4; 0,7; 1,0 и 2,0 нм — автоматическое переключение шести щелей

3. Точность длины волны: ±0,1 нм; воспроизводимость длины волны: ≤0,05 нм

4. Разрешение: лучше 0,1 нм

5. Вращающийся держатель на 8 ламп, полностью автоматически управляемый компьютером, с быстрым позиционированием и автоматическим выбором лампы элемента.

6. Способ фоновой коррекции: дейтериевая лампа, коррекция по самопоглощению;

7. Фотоэлектронный умножитель с широким диапазоном и высокой чувствительностью

8. Стабильность базовой линии: ≤0,003 А/30 мин (динамическая), ≤0,002 А/30 мин (статическая)

9. Автоматический предварительный прогрев следующей лампы элемента; возможность одновременного включения 2 ламп

10. Пламенный анализ

Характеристическая концентрация: Cu<0,02 мкг/мл; предел обнаружения: Cu<0,003 мкг/мл; RSD: ≤0,45%.

11. Автоматический поиск пика: автоматическое выполнение установки нуля, сканирования, регулировки положения лампы, регулировки положения зеркал и балансировки энергии в зависимости от выбранных в методике условий, таких как длина волны элемента.